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原位解決方案-掃描電鏡原位高溫拉伸臺掃描電鏡原位高溫拉伸臺集成了力學拉伸模塊以及高溫環境模塊，可以實現在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時進行拉伸實驗。
PicoFemto電鏡原位氣氛加熱環境測量系統原位解決方案，將MEMS氣氛環境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環境并且可以對實驗樣品原位加熱。
電鏡原位液體-電化學測量系統原位解決方案，采用全新的O圈輔助密封設計，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題。
原位解決方案——光電力一體化系統集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內對電學探針與光纖探針進行亞納米級別精度的操縱與定位。
SEM原位解決方案——SEM納米力測量系統將納米壓痕儀集成進掃描電鏡中，使用戶可以在掃描電鏡中進行原位納米壓痕研究。
SEM原位解決方案——低溫/冷凍真空傳輸系統 360°旋轉冷臺、冷阱 溫度范圍:-60°C to +50℃C最大功率:~45W(12V,3.5A)溫度穩定性:±0.01℃℃·低圖像漂移速率·冷卻和加熱速度高達 30℃/分鐘·提供 SEM 室端口饋通
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